康芯威“一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法”专利公布
发布时间:2025-04-06 08:48
发布者:网络
浏览次数:合肥康芯威存储技术有限公司近日公布一项名为“一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法”的新专利(申请公布号:cn119541610a,申请公布日:2025年2月28日)。该专利涉及存储器技术领域,旨在提升存储器固件下刷效率和可靠性。
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该专利描述了一种新型存储器,其核心部件包括缓存器、闪存模块和主控模块。 缓存器用于暂存主机写入的待测数据;当缓存器写满后,待测数据则写入闪存模块;主控模块负责存储器的初始化,并在数据写入缓存器后,经过预设延迟时间后执行初始化操作,判断数据是否已完整从缓存器下刷到闪存模块。若未完整下刷,则系统会重新配置延迟时间并重新写入数据,直至数据完整下刷。 此方法通过读写后步进式掉电的方式,有效测试开启缓存功能的固件数据下刷时间。
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